发现缺陷与机器学习芯片
将支持采用更好的算法和更多的数据,特别是在先进的节点。
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<引用类= " wp-embedded-content“公开数据= " LP5D5DuRls " > < a href = " https://semiengine新利体育下载注册ering.com/finding-defects-with-machine-learning/ " >找到缺陷与机器学习芯片< / > < /引用> < iframe沙箱=安全“允许脚本”=“限制”src = " //www.es-frst.com/finding-defects-with-machine-learning/embed/ ?secret=LP5D5DuRls" width="600" height="400" title="“Finding Defects In Chips With Machine Learning” — Semiconductor Engineering" data-secret="LP5D5DuRls" frameborder="0" marginwidth="0" marginheight="0" scrolling="no" class="wp-embedded-content">
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