麻省大学Amherst MA的研究人员发表了题为“知道死亡时间-使用模间延迟puf的零信任芯片系统的完整性检查”的新技术论文。
摘要(部分):
“在本文中，我们提出了一种基于延迟的PUF，用于验证芯片的系统完整性。我们的技术允许单个芯片与其邻居启动一个协议，以测量传入信号传播延迟的独特变化，作为完整性检查的一部分。我们在Xilinx Ultrascale+ fpga上设计了原型，它是在硅中间层上构建的多模系统，并且还模拟了其他工业芯片接口的一般特征。我们使用亚马逊的弹性计算云(EC2) F1实例作为测试平台，在数十个Ultrascale+ fpga上进行实验并比较数据。PUF单元显示拒绝时钟和温度变化为共模，每个单元产生大约5 ps的独特延迟变化。对于144个PUF单元的设计，我们测量类内和类间距离的平均值分别为68.3 ps和847.7 ps。在标称条件下，最小的类间距离686.0 ps超过最大的类内距离124.0 ps 5倍以上，并且PUF显示出对环境变化的弹性。我们的研究结果表明，PUF可以用于身份验证，并且可能足够敏感，可以检测到由于篡改造成的皮秒级时间变化。”
找到这里是技术文件．2022年6月出版。
德里克，A. &霍尔科姆，D.(2022)。了解模具时间-使用模间延迟puf的零信任芯片系统的完整性检查。密码硬件与嵌入式系统学报，2022(3)，391-412。https://doi.org/10.46586/tches.v2022.i3.391 - 412。
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