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有效跟踪RISC-V


系统与其他RISC-V核心通常包括多种类型的处理器和加速器。产品经理彼得•盾牌Tessent西门子数码行业,讨论调试和跟踪所需的上下文,包括需要全速不引人注目的观察、追踪和跟踪时,以及嵌入式IP如何识别报告哪些分支德……»阅读更多

沉默的数据损坏


缺陷可以从任何地方潜入芯片制造,但问题是恶化在高级节点和高级包减少销访问可以使测试更加困难。Ira利文斯,美国应用研究和技术副总裁美国效果显著,谈论是什么导致了这些所谓的沉默的数据错误,如何找到他们,为什么现在需要马…»阅读更多

现在首要任务在高级节点系统的产量问题


系统产生问题取代随机缺陷作为主要关注在最先进的半导体制造过程节点,需要更多的时间,精力,和成本达到足够的收益。收益率是终极嘘嘘在半导体制造话题,但它也是最重要的,因为它决定了有多少芯片可以出售获利。“老节点b…»阅读更多

采用预测维护工厂的工具


预测性维护,更多更好的传感器数据来源于半导体制造设备,工厂可以减少停机时间,最终降低成本与定期维护。但实现这个方法是不平凡的,它可以破坏精确的过程和流动。没有足够迅速地执行维护可能导致损坏晶片或…»阅读更多

计量抽样计划是关键设备分析和可追溯性


母亲踩下刹车,将车停在她滴孩子的舞蹈课。当时,她不注意错什么,但当她把她的车在其常规服务预约、机修工进行诊断检查和发现主制动系统在汽车没有因为错误的制动控制器没有人意识到这一点。Fortu……»阅读更多

高电压测试竞赛


电压需求增加,尤其是电动汽车市场。甚至可能被认为相对较低电压的装置,如显示驱动程序,现在推过去建立基线。高电压工作时并不是什么新鲜事,许多工程师可以在他们的工作场所——召回黄色警示胶带的数量和种类的新要求使得测试在高…»阅读更多

在RISC-V管理风险


采用RISC-V处理器正在加速。这种技术,就像所有的新生事物一样,有益处和风险。许多开发人员开放标准意味着自由,但成功取决于RISC-V周围支持生态系统的发展。产业协作制造广泛采用RISC-V是可能的,和一个例子是引入有效的跟踪RISC-V内核。当incorp……»阅读更多

可测试性分析基于不断变化的技术


芯片系统(SoC)设计的复杂性继续增长,所以相应的适当时机(DFT)逻辑所需的制造业变得更先进。设计团队挑战高门数和数组的内部开发和第三方IP集成到他们的设计。理解如果一个可以创建高质量的生产测试这些复杂的设计亩…»阅读更多

确保网络安全威胁不断上升的半导体测试设备保护


网络安全威胁每天对你的业务构成风险,可以攻击你的各个方面的操作,和这些威胁只会增加。根据IBM安全成本数据泄露的报告,2021年,数据泄露的平均总成本比去年增加了近10%,从3.86美元到4.24美元——最大的单一成本增加在过去的七年。源头……»阅读更多

增加区分SoC值和减少IP集成时间


在最有效的SoC设计过程中,半导体公司设计自己的差异化的IP块,获得高质量的第三方知识产权,配置在一个SoC-optimized方式,并将所有模块集成到时钟的SoC的基础设施,电压供应,芯片上的缓冲记忆或寄存器,和测试电路。SoC设计团队定义和驱动器SoC-specific实现……»阅读更多

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